科技發(fā)展日新月異，雖然有一些企業(yè)研發(fā)出半導(dǎo)體晶片表面缺陷瑕疵檢測自動(dòng)化測試，但目前效果還不顯著，目前半導(dǎo)體晶片表面缺陷瑕疵檢測主要還是依賴于人工檢測。深圳熒鴻用于半導(dǎo)體晶片表面缺陷瑕疵檢測的檢查燈即可用于人工檢測，也可用于自動(dòng)化檢測。

半導(dǎo)體晶片不管是自主加工生產(chǎn)還是外購，都要對(duì)其外表進(jìn)行缺陷瑕疵檢查，避免瑕疵品在投入使用，從而導(dǎo)致成品成為不合格產(chǎn)品。深圳熒鴻用于半導(dǎo)體晶片表面缺陷瑕疵檢查燈以及測試系統(tǒng)主要技術(shù)指標(biāo)如下：

1、測試精度：可檢測出1um以下的缺陷瑕疵

2、光源：人眼易于察覺的綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光

3、檢查系統(tǒng)帶工業(yè)相機(jī)，可拍攝瑕疵點(diǎn)

4、樣式靈活，可手持式和桌面放置解放雙手

5、可調(diào)節(jié)燈光照射范圍

深圳熒鴻從2006年開始專注于檢查燈，并根據(jù)市場不同的需求，研發(fā)不同的新品。更多關(guān)于半導(dǎo)體晶片表面缺陷瑕疵檢測燈，請咨詢深圳熒鴻熱線0755-89233889。