晶圓在多道生產(chǎn)程序中，都需要對其進行瑕疵檢測。否則在生產(chǎn)過程中可能產(chǎn)生的劃痕，旋轉缺陷、曝光問題、顆粒污染、熱點、晶圓邊緣缺陷等最終芯片性能的各種其他缺陷。晶圓瑕疵檢測主要有采用專業(yè)晶圓瑕疵檢測燈進行人工目檢以及晶圓瑕疵自動化檢測設備視覺檢測，兩者的優(yōu)缺點主要如下:

深圳熒鴻專注于高亮度人工目視晶圓瑕疵檢測燈研發(fā)和生產(chǎn)，有幾萬到十幾萬到幾十萬LX亮度可供選擇，也可根據(jù)用戶要求定制。晶圓瑕疵檢測燈也有手電筒式、手持式、桌面式等可供選擇，更多關于晶圓瑕疵檢測燈可咨詢0755-89233889或189 2347 7268！