深圳熒鴻瑕疵檢測(cè)燈在半導(dǎo)體wafer晶圓制作過程中在前段、中段和后段都被用于檢測(cè)表面瑕疵并判斷其合格情況。黃色和綠色的表面瑕疵檢測(cè)燈被選擇的多些，不過白光有時(shí)也會(huì)被選擇。前段、中段和后段瑕疵檢測(cè)如下：

前段  原材料廠wafer晶圓片制作完成后要在出廠前對(duì)其表面進(jìn)行瑕疵檢測(cè)，沒有瑕疵才能成為合格品進(jìn)行出廠；

中段  廠家購入原材料wafer晶圓片進(jìn)行光刻，光刻前需要對(duì)晶圓片進(jìn)行表面瑕疵檢測(cè)，確定無瑕疵后進(jìn)行光刻、蝕刻等。光刻、蝕刻后需對(duì)wafer晶圓片表面線路進(jìn)行檢查，線路沒有瑕疵才能出廠

后端   wafer晶圓片刻入電路后，對(duì)其表面進(jìn)行瑕疵檢測(cè)，根據(jù)表面瑕疵情況（檢查電路外的情況），對(duì)其進(jìn)行切割。

深圳熒鴻用于半導(dǎo)體的表面瑕疵檢測(cè)燈不含有紫外光和藍(lán)光，對(duì)晶圓制作無影響。我們的表面瑕疵燈有手持式和桌面式，在一定的條件下，光照度相比其他表面檢查燈高出20%，是專業(yè)的半導(dǎo)體瑕疵檢測(cè)燈，可精確檢測(cè)1um的瑕疵。更多關(guān)于半導(dǎo)體表面瑕疵檢測(cè)燈，請(qǐng)咨詢：0755-89233889或18923477268（同微信）。